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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

Peter Baumann

$92.95   $78.81

Paperback

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QTY:

German
Springer Vieweg
02 May 2023
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.

By:  
Imprint:   Springer Vieweg
Country of Publication:   Germany
Edition:   3. Aufl. 2023
Dimensions:   Height: 240mm,  Width: 168mm, 
Weight:   400g
ISBN:   9783658409562
ISBN 10:   3658409568
Pages:   217
Publication Date:  
Audience:   Professional and scholarly ,  Undergraduate
Replaced By:   9783658438203
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann arbeitete als Hochschullehrer für Elektronik an den Hochschulen in Mittweida und Zwickau und war als Lehrbeauftragter für Sensorschaltungen an der Hochschule Bremen tätig.

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